| | | | |
| | | |
| |
| 28.06.2020 | Хор | | | Новые методы получения материалов для наноэлектроники |
| 28.06.2020 | Отл | | | Основные физико-химические и оптические свойства полупроводников |
| 28.06.2020 | Хор | | | Использование солнечных элементов |
| 28.06.2020 | Отл | | | Собственная и примесная проводимость полупроводников |
| 28.06.2020 | Отл | | | Технологические основы полупроводниковой микроэлектроники |
| 28.06.2020 | Хор | | | Кремний — материал наноэлектроники |
| 28.06.2020 | Хор | | | Литографические методы в микроэлектронике |
| 28.06.2020 | Отл | | | Фотолитография: физические принципы, способы реализации, достоинства и ограничения |
| 28.06.2020 | Отл | | | Электрический пробой твердых диэлектриков |
| 28.06.2020 | Хор | | | Применение электронных свойств контактов металл/диэлектрик и полупроводник/диэлектрик в современных электронных устройствах |
| 28.06.2020 | Н/я | | | Молекулярные элементы наноэлектроники: возможные методы создания и возможности применения |
| 28.06.2020 | Хор | | | Процессы, происходящие при взаимодействии электронного пучка с поверхностью твердого тела |
| 28.06.2020 | Н/я | 11.09.2020 | Хор | Тонкопленочные наносенсоры окружающей среды |
| 28.06.2020 | Отл | | | Контактные явления в полупроводниках |
| 28.06.2020 | Н/я | | | Физические принципы и явления функциональной микроэлектроники |
| 28.06.2020 | Отл | | | Физические основы работы светоизлучающих диодов |
| 28.06.2020 | Отл | | | Применения квантовых точек (нульмерных объектов) в современных электронных устройствах |
| 28.06.2020 | Отл | | | Просвечивающая электронная микроскопия |
| 28.06.2020 | Отл | | | Основные параметры биполярных транзисторов |
| 28.06.2020 | Отл | | | Сканирующая туннельная микроскопия |